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蔡司MultiSEM全球速度非凡的掃描電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時代$n借助 蔡司掃描電鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡（SEM）專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數(shù)據采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

蔡司EVO掃描電鏡將高性能的掃描電鏡和直觀的、友好的用戶界面體驗結合在一起， 同時能夠吸引經驗豐富的用戶以及新用戶。無論是在生命科學，材料科學，或例行的工業(yè)質量保證。

JetSCAN便攜式掃描電子顯微鏡 整體解決方案中集成了強大的數(shù)據分析和風險評估功能，是一款用于軸承磨損狀態(tài)監(jiān)測的優(yōu)秀診斷與預測工具。

蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結合了高分辨率場發(fā)射掃描電鏡（FE-SEM）的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束（FIB）的優(yōu)異加工能力。無論是用于多用戶實驗平臺，還是科研或工業(yè)實驗室， 利用Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念，您可基于自身需求隨時升級儀器系統(tǒng)（例如使用LaserFIB進行大規(guī)模材料加工）。